CRY5083 아날로그 출력 - AOS
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제품 하이라이트
다지점 NVH 여기용 4채널 동기식 출력
AOS는 통합 SonoDAQ 플랫폼 타임 베이스를 통해 동기식 출력이 가능한 네 개의 독립 아날로그 출력 채널을 제공합니다. 기존의 단일/이중 채널 여기 소스와 비교하여, 4채널 동기 아키텍처는 다지점 여기, 능동 음원 어레이, 벤치 제어 및 복잡한 구조 응답 시험에 보다 적합합니다.
4채널
동기식 출력
다지점 여기
차동, 싱글엔디드 및 DC 출력 지원
이 모듈은 차동, 싱글엔디드 및 DC 출력 모드를 지원합니다. 싱글엔디드 출력 범위는 ±10 V로, 외부 전력 증폭기, 셰이커 컨트롤러 입력, 액추에이터 제어 인터페이스 및 표준 전압 시뮬레이션 인터페이스와의 호환성을 제공합니다. 출력 임피던스는 20 Ω이며 구동 능력은 10 mA입니다.
±10 V
20 Ω
10 mA
다중 파형, 위상/지연 및 재생 제어
OpenTest와 함께 사용할 경우, AOS는 다중 파형 생성, 위상 제어, 지연 제어 및 파형 재생을 지원합니다. 사용자는 소프트웨어 내에서 여기 신호를 일괄 정의하고 이를 취득 채널과 동기화하여 FRF 측정, 모달 해석, 스윕 시험 및 반복성 시험을 위한 안정적인 여기 소스를 제공할 수 있습니다.
다중 파형
위상 제어
파형 재생
고정밀·저잡음 신호 출력
AOS는 20 Hz에서 20 kHz 범위에서 ±0.03 dB의 진폭 정확도와 ±0.01 dB의 주파수 응답 평탄도를 달성합니다. ±10 V 범위에서 출력 노이즈 플로어는 ≤ 10 µVrms이며, 1 kHz, 1 Vrms에서 THD는 ≤ -100 dB입니다. 채널 간 크로스토크는 ≤ -110 dB @1 kHz로, 안정적이고 왜곡이 낮은 아날로그 여기 신호 생성을 가능하게 합니다.
±0.03 dB
저잡음
-100 dB THD
포괄적인 보호 및 뮤트 복구 메커니즘
이 모듈은 셧다운, 단락 보호, 과전류 보호, 과온 보호 및 뮤트 복구 기능을 지원합니다. 소프트웨어에서 장애 상태를 모니터링, 표시 및 로깅할 수 있어, 엔지니어가 현장에서 이상 상태를 신속히 파악하고 배선 오류나 비정상 부하가 시험 시스템에 미치는 영향을 줄이는 데 도움을 줍니다.
셧다운
단락 보호
뮤트 복구
입력 모듈을 활용한 폐루프 시험 플랫폼
LMQ, IED 등의 입력 모듈과 함께 사용하면, AOS는 SonoDAQ + OpenTest 플랫폼에서 여기 출력, 신호 취득, 실시간 분석 및 보고서 생성을 통합한 완전한 폐루프 워크플로를 구성하여 NVH, 음향 및 구조 시험에 대한 전체 시스템 성능을 향상시킵니다.
입출력 동기화
폐루프 시험
OpenTest
기술 사양
주요 기능
- 4채널 동기식 아날로그 출력
- 차동, 싱글엔디드 및 DC 출력 모드를 지원
- 싱글엔디드 ±10 V 표준 전압 출력
- 다중 파형 생성, 위상/지연 제어 및 파형 재생 지원
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